儀器簡介
XRD的全稱是X-Ray Diffraction，即X射線衍射。這是一種通過對粉末、單晶或多晶體等塊體檢測材料等樣品進(jìn)行X射線衍射，分析其衍射圖譜，獲得材料的成分、材料內(nèi)部原子或分子的結(jié)構(gòu)或形態(tài)等信息，是目前研究物質(zhì)的物相和晶體結(jié)構(gòu)最有力的方法。
臺式多晶X射線衍射儀是探測晶體材料物質(zhì)結(jié)構(gòu)的分析儀器，可以對晶體材料物質(zhì)進(jìn)行包括定性定量功能在內(nèi)的多種分析應(yīng)用，是材料分析領(lǐng)域重要技術(shù)手段。臺式多晶X射線衍射儀在自然科學(xué)和技術(shù)科學(xué)中的應(yīng)用范圍遍及廣泛領(lǐng)域，在諸多以材料科學(xué)為基礎(chǔ)的眾多學(xué)科、工業(yè)行業(yè)中都有重要的應(yīng)用，是理工科院校和涉及材料研究、生產(chǎn)工藝部門、廠礦實(shí)驗(yàn)室的重要不可或缺的大型分析儀器設(shè)備。本產(chǎn)品利用X射線照射晶體物質(zhì)產(chǎn)生X射線衍射的原理，采用準(zhǔn)聚焦設(shè)計(jì)光路來實(shí)現(xiàn)對被照射樣品的衍射幀收集，進(jìn)而轉(zhuǎn)化成標(biāo)準(zhǔn)衍射圖譜做定性定量分析。
儀器特點(diǎn)
?
光子計(jì)數(shù)X射線探測器
面陣型光子計(jì)數(shù)半導(dǎo)體探測器??
高靈敏，可實(shí)現(xiàn)單光子計(jì)數(shù) ?
動(dòng)態(tài)范圍大 ?
雙閾值
抗強(qiáng)輻射長時(shí)照射，長壽命
大角度弧形探測器
同時(shí)獲取-3°~150°2θ角度范圍圖像
2D成像，同時(shí)收集y角度信息
探測器至樣品距離：150mm
多片探測器全角度無縫覆蓋
固定測角儀系統(tǒng)??
同時(shí)獲取-3°~150°2θ角度范圍圖像??
2D成像，同時(shí)收集y角度信息
支持多種數(shù)據(jù)采集模式
固定照相模式獲取2D衍射幀
快掃模式獲取1D衍射譜
型號參數(shù)
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