產(chǎn)品中心
偏光顯微鏡XPL-2600
儀器簡介
XPL-2600透反射偏光顯微鏡主要用于鑒別具有雙折射特性的物質(zhì)，是藥理學(xué)、地質(zhì)學(xué)和機(jī)械、冶金等部門用來研究結(jié)晶、礦物、巖石和金相組織的重要工具。產(chǎn)品配置無應(yīng)力平場消色差物鏡與大視野目鏡，高精度偏光載物臺(tái)，優(yōu)良的偏振觀察附件等。可在透射偏光狀態(tài)下獲得良好的顯微圖像，儀器機(jī)械性能優(yōu)良，觀察舒適，操作方便，是廠礦企業(yè)、科研院所進(jìn)行檢測、研究與教學(xué)的理想儀器。
產(chǎn)品屬性
- 產(chǎn)品型號(hào)：XPL-2600
- 放大倍數(shù)：50X~600X
- 光源：1W LED燈，亮度可調(diào)
全自動(dòng)表界面張力儀KF100
儀器簡介
全自動(dòng)表界面張力儀KF100功能多樣，可以全自動(dòng)測量表面和界面張力。KF100提供了諸多擴(kuò)展模塊來拓展儀器的應(yīng)用范圍, 用于測定表面和界面的各種特性，大大提高了其使用的靈活性。用標(biāo)準(zhǔn)方法來測量液體的表面和界面張力。測量溫度控制范圍從-10到300 °C，可以滿足實(shí)際測量需要。測樣空間寬敞，有利于樣品方便的處理。KF100測試結(jié)果準(zhǔn)確、快速、穩(wěn)定，深受用戶好評(píng)！
產(chǎn)品屬性
- 品牌：貝拓
- 型號(hào)：KF100
- 產(chǎn)地：廣東
- 價(jià)格：面議
全自動(dòng)的超痕量六價(jià)鉻分析儀
儀器簡介
超痕量六價(jià)鉻分析儀采用柱后衍生色譜法，即：樣品中的六價(jià)鉻經(jīng)過離子色譜分離后與衍生試劑（二苯卡巴肼）混合，利用六價(jià)鉻具有強(qiáng)氧化性，在酸性環(huán)境下氧化二苯卡巴肼并且絡(luò)合成紫紅色的絡(luò)合物，在540nm處測定它的光吸收。超痕量六價(jià)鉻分析儀在業(yè)界中首先采用雙離子色譜泵系統(tǒng)，即柱后衍生泵也是高性能的離子色譜泵，從而降低了輸液脈沖、降低檢出限；專用的PDA檢測器，大幅度提高靈敏度和抗干擾能力。
產(chǎn)品屬性
- 品牌：貝拓科學(xué)
- 產(chǎn)地：中國
- 型號(hào)：CR6
手持拉曼光譜儀PTRam785
儀器簡介
手持拉曼光譜儀PTRam785應(yīng)用于公安安全、毒品快檢、食品安全、珠寶鑒定、原料藥檢測、生物醫(yī)療、地質(zhì)地礦等多個(gè)領(lǐng)域；集自動(dòng)校準(zhǔn)、檢測、圖譜處理、數(shù)據(jù)庫檢索和識(shí)別于一體，操作簡便快速，易于攜帶；能夠準(zhǔn)確的對(duì)物質(zhì)成分進(jìn)行快速檢測分析。
產(chǎn)品屬性
- 型號(hào)：PTRam785
顯微激光拉曼光譜儀TeachRam
儀器簡介
TeachRam是整體化設(shè)計(jì)的785nm激光顯微拉曼光譜儀，結(jié)合了顯微鏡及拉曼光譜儀兩者的優(yōu)點(diǎn)，同時(shí)克服了光纖耦合光損失過大的問題，利用高性能小型光譜儀就可以獲得高靈敏度。TeachRam具備對(duì)微小區(qū)域?qū)崟r(shí)成像及拉曼光譜采集的能力。
產(chǎn)品屬性
- 品牌：貝拓科學(xué)
- 型號(hào)：CVRam Edu
- 產(chǎn)地：中國廣東
- 價(jià)格：面議
光學(xué)薄膜厚儀Delta系列
儀器簡介
Delta薄膜厚度測量系統(tǒng)利用薄膜干涉光學(xué)原理，對(duì)薄膜進(jìn)行厚度測量及分析。用從深紫外到近紅外可選配的寬光譜光源照射薄膜表面，探頭同位接收反射光線。Delta根據(jù)反射回來的干涉光，用反復(fù)校準(zhǔn)的算法快速反演計(jì)算出薄膜的厚度。測量范圍1nm-3mm，可同時(shí)完成多層膜厚的測試。對(duì)于100nm以上的薄膜，還可以測量n和k值
產(chǎn)品屬性
- 產(chǎn)地：中國
- 品牌：貝拓科學(xué)
- 波長范圍：900-1700nm
白光干涉薄膜厚度測量儀Delta
儀器簡介
白光干涉薄膜厚度測量儀Delta利用薄膜干涉光學(xué)原理，對(duì)薄膜進(jìn)行厚度測量及分析。用從深紫外到近紅外可選配的寬光譜光源照射薄膜表面，探頭同位接收反射光線。白光干涉薄膜厚度測量儀Delta根據(jù)反射回來的干涉光，用反復(fù)校準(zhǔn)的算法快速反演計(jì)算出薄膜的厚度。測量范圍1nm-3mm，可同時(shí)完成多層膜厚的測試。對(duì)于100nm以上的薄膜，還可以測量n和k值。
產(chǎn)品屬性
- 品牌：貝拓
- 產(chǎn)地：廣東
- 波長范圍：900-1700nm
- 厚度范圍：10um-3mm
TF200光學(xué)膜厚儀
儀器簡介
TF200薄膜厚度測量系統(tǒng)利用薄膜干涉光學(xué)原理，對(duì)薄膜進(jìn)行厚度測量及分析。用從深紫外到近紅外可選配的寬光譜光源照射薄膜表面，探頭同位接收反射光線。TF200根據(jù)反射回來的干涉光，用反復(fù)校準(zhǔn)的算法快速反演計(jì)算出薄膜的厚度。測量范圍1nm-3mm，可同時(shí)完成多層膜厚的測試。對(duì)于100nm以上的薄膜，還可以測量n和k值。
產(chǎn)品屬性
- 品牌：Betop
- 型號(hào)：TF200
- 產(chǎn)地：中國
- 價(jià)格：面議
共聚焦顯微拉曼光譜儀
儀器簡介
三激發(fā)波長全自動(dòng)切換
高靈敏度光譜儀焦長
實(shí)現(xiàn)軟件控制全自動(dòng)切換
采用真正的針孔共聚焦
光學(xué)顯微鏡采用科勒照明方式
高靈敏度光譜儀焦長
實(shí)現(xiàn)軟件控制全自動(dòng)切換
采用真正的針孔共聚焦
光學(xué)顯微鏡采用科勒照明方式
產(chǎn)品屬性
- 品牌：貝拓科學(xué)
- 型號(hào)：CVRam HR300
- 產(chǎn)地：中國廣東
- 價(jià)格：面議
自動(dòng)反射率測量儀ATR1000
儀器簡介
ATR1000自動(dòng)透反射率測量儀支持反射率測量，并給出光譜曲線，用于實(shí)時(shí)測試樣品的紫外到近紅外波段（最寬可達(dá)200-2500nm）的和反射率。ATR1000采用一體化設(shè)計(jì)，采用內(nèi)置固定光纖，光路穩(wěn)定，樣品倉可以完全封閉，把外界光的影響降到最低。軟件操作簡單，可通過設(shè)置閾值自動(dòng)判斷測試結(jié)果是否合格，廣泛應(yīng)用于光學(xué)玻璃、半導(dǎo)體等行業(yè)，測試毛糙樣品時(shí)，可按照客戶要求配備積分球。
產(chǎn)品屬性
- 品牌：貝拓
- 型號(hào)：ATR1000
- 產(chǎn)地：廣東
- 價(jià)格：面議