納米粒度及Zeta電位分析儀DLS100是集成納米膠體溶液的顆粒粒度，及其Zeta電位分析的高性能光學檢測裝置。Zeta電位納米粒度儀DLS100的原理分別是：動態光散射（Dynamic Light Scattering，DLS）技術，與電泳光散射（Electrophoretic Light Scattering, ELS）技術。應用上述技術，可以實時、準確地檢測膠體溶液中納米顆粒的粒徑及粒徑分布，以及Zeta電位等參數，可廣泛的應用于生物、醫藥、化工、食品、材料制備和污水處理等領域的基礎研究、質量分析和質量控制等應用。

產品特點

• 高速、準確的檢測能力

• 高性能自適應光子相關器，提高檢測的實時性、準確性和重復性

• 自適應光源強度調節，保證測量裝置檢測性能的穩定性和重復性

• 高靈敏度和穩定度的光子計數級光電信號檢測能力，

• 可靠的光纖耦合裝置，高效地增加DLS和ELS信號的信噪比，提高測量穩定性

• 準確智能的頻譜分析算法，提高ELS的測量精度

• 高穩定性的光路與電路設計：消除雜散光和噪聲信號的影響，結果穩定性和重復性高

應用領域

磨料、化學機械拋光液、陶瓷、粘土、涂料、污染監測、化妝品、乳劑、食品、液體工作介質/油、墨水、? 乳液、色漆、制藥粉體、顏料、聚合物、蛋白質大分、二氧化硅以及自組裝TiO2納米管(TNAs)等

納米粒度及Zeta電位分析儀DLS100技術參數

• 粒徑測量范圍：0.7-10um(動態光散射法)；

• Zeta電位測試范圍：-500~﹢500mV；

• 準確性與重復性：優于2%（國家標準樣品 D50 值）；

• 檢測角度：90°、18°；

• 樣品池：塑料樣品池、Zeta電位樣品池；

• 溫控范圍：10℃-50℃，精度±0.1℃，半導體制冷；

• 激光光源：可調半導體激光器，波長635nm、35mW；

• 檢測器：光子計數級的光電倍增管（PMT）；

• 數字相關器：集成的光子相關器，雙通道。1000 通道，最小采樣時間 100ns；

• 納米粒度儀軟件：納米粒度儀分析軟件是用于測試納米粒徑及粒徑分布的全新軟件，采用動態光散射技術及電泳光散射技術，可以實時、準確地檢測膠體溶液中納米顆粒的粒徑及粒徑分布，以及Zeta電位等參數。

• 計算機接口;USB3.0及以上。